◈ NANOVIEW SEM
SISTEMA EN ESPERA · VACÍO OK · HV STANDBY
ZEISS · CTR Scientific
Microscopio electrónico de barrido ZEISS Crossbeam ZEISS CROSSBEAM · GEMINI 2
SISTEMA SEM · ACTIVACIÓN

SEM ZEISS para la industria microscopía electrónica de barrido

ZEISS ofrece un amplio catálogo de sistemas para una gran variedad de aplicaciones en el campo del control de calidad industrial y el análisis de fallos.

◉ INICIAR ACTIVACIÓN
Cuatro muestras montadas · del ojo humano al nanómetro
Modo inmersivo: elige y recorre todas las muestras sin salir del visor.